FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备。
在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速波形发生与釆集以及低频噪声测试能力，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。

全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程，并可与概伦9812系列噪声测试系统无缝集成。

釆用工业通用的PXI模块化硬件架构，系统配置灵活，扩展性强。

内置专业测试软件LabExpress提供丰富的测试预设和强大的数据处理功能。

LabExpress软件同时支持自动化量测和并行量测，可进一步提升测试效率。

广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试、器件可靠性等研究领域。